對象

質量工程師，量檢具管理和使用人員，檢驗和試驗人員，IATF16949：2016內部審核員，直接負責準備PPAP的人員或APQP小組成員等。

目的

1、定義測量系統、理解測量系統變差及其來源； 2、確定測量系統分析的范圍、資源、人員需求，制訂分析計劃； 3、掌握計量型測量系統的分析方法和判斷準則； 4、掌握計數型測量系統的分析方法和判斷準則； 5、掌握如何進行破壞性測量系統的分析方法； 6、通過測量系統分析，提高選用、維護和改進測量系統有效性的能力。

內容

第一章 測量系統概述

1、測量的定義

2、測量系統的定義

3、理想的測量系統

4、測量系統的變差來源（PISMOEA模型）

5、測量系統誤差的影響（對產品檢驗、對過程控制）

6、測量系統分析的概念

第二章 測量系統的幾個基本特性

1、測量系統誤差（準確度和精確度）的概念

2、測量系統的幾個基本特性（分辨力、偏倚、線性、穩定性、重復性、再現性）

3、測量不確定度的概念

第三章 測量系統的策劃和測量系統分析計劃

1、測量系統的策劃（APQP、FMEA、測量計劃、量具的配備、量具的設計、采購或制造、測量系統分析計劃、測量系統分析）

2、IATF16949等標準對MSA的要求

第四章 計量型測量系統的分析方法和判斷準則

1、偏倚的分析方法與判斷準則

2、線性的分析方法與判斷準則

3、穩定性的分析方法與判斷準則

4、GRR的分析方法與判斷準則（極差法、均值極差法、方差分析法）

練習：偏倚、線性、穩定性、GRR均值極差法

第五章 計數型測量系統的分析方法和判斷準則

1、計數型測量系統的小樣法簡介

2、計數型測量系統的風險分析法（Kappa）

3、計數型測量系統的信號探測法

4、計數型測量系統的解析法

練習：計數型測量系統分析

第六章 破壞型測量系統的分析方法和判斷準則

附表及附錄